空间电子器件抗辐射可靠性的一种分析方法
空间中运行的航天器，会受到空间辐射环境的影响。航天器上的电子元器件在空间辐射环境的作用下，会产生各种效应，影响元器件甚至整个系统的性能，提高了航天器运行的风险，增加了成本。如何去分析电子元器件在空间环境中的可靠性，是空间研究的一个重要方向。本文介绍了一种分析长寿命航天器上的电子器件在空间中抗辐射加固可靠性的方法。在一般性的假设前提下，根据可靠性理论，得到了器件发生总剂量效应和单粒子效应时的可靠性。根据地面辐照试验的结果，通过计算，就可以估计出器件在空间辐射环境中的可靠性。
空间电子器件 抗辐射加固 可靠性分析 总剂量效应 单粒子效应
把得东 杨生胜 薛玉雄 安恒
兰州空间技术物理研究所,真空低温技术与物理重点实验室,甘肃,兰州,730000
国内会议
北京
中文
138-141
2011-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）