OH基A2∑+-X2∏带系辐射光谱测温技术研究
在数千K的高温环境下,H2O分子离解并有OH基生成,OH基在高温下被激发并对外产生强烈的辐射作用,而OH基A2∑+-X2∏(T00=32682cm-1)带系的辐射光谱结构强烈的依赖于转动、振动温度,本文通过分子光谱理论重点分析了OH基A2∑+-X2∏带系的辐射光谱结构与转动温度、振动温度以及光谱仪器响应函数之间的关系,并以此为试验依据,试验中通过光学多通道分析仪分析氧氧燃烧过程中OH基A2∑+-X2∏带系的辐射光谱,并通过A2∑+-X2∏带系的光谱分析氢氧燃烧过程中OH基的转动、振动温度以及热力学变化状态。
氢氧基 辐射光谱 转动温度 振动温度 光谱仪 响应函数
彭志敏 杨乾锁 刘春 竺乃宜 姜宗林
中国科学院力学研究所 高温气体动力学重点实验室 北京 100490
国内会议
成都
中文
202-208
2009-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）