统计分析太阳耀斑所致X射线及EUV辐射变化特征

摘要：

　　本文利用0.1～0.8nm的X-ray数据、26～34nm的EUV数据、0.1～50nm的EUV数据统计分析X-ray辐射与不同波段EUV辐射的相关性，同时统计研究不同等级耀斑的边缘效应。

关键词： 太阳耀斑 X射线 极紫外辐射 边缘效应

作者: 乐会军 刘立波 贺晗 万卫星

作者单位: 中国科学院地质与地球物理研究所 北京 100029 中国科学院北京天文台 北京 100029

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国地球物理学会第二十七届年会

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 903

在线出版日期: 2011-10-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）