X射线荧光光谱法测定高含量硫的铁矿和钒钛铁矿中的主、次成分

摘要：

　　X-射线荧光仪被广泛应用于各种铁矿石成分的检测，是荧光分析技术在冶金分析领域里的一项重要应用。干扰曲线法结合理论a系数校正谱线重叠干扰和基体效应效果良好，可以对钒钛铁矿及高含量硫的中主次量元素进行快速、准确的测定，满足了日常生产对测定铁矿石中硫和钒的要求。

关键词： 钒钛铁矿 高含量硫 X-射线荧光仪 干扰曲线法

作者: 张莉娟 吴磊 陈曦

作者单位: 天津资质矿产研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国地质与地球化学分析学术报告会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 112-114

在线出版日期: 2011-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）