X射线荧光光谱仪及其分析技术的发展
本文论述了X射线荧光光谱仪在设备装置和配套方法方面的新状况。X射线荧光光谱仪整机现在向着小型化、智能化、多功能方面发展，仪器各部件也随着研究的深入而得到了更进一步地改进，在这一基础上，仪器可分析元素的含量范围得到了拓展，方法也得到了丰富。目前，X荧光光谱仪开发了微区面分布的元素成像分析方法、高级次谱线分析方法、薄膜分析方法等新的方法，文中将对这些新方法作以介绍，同时也对基本参数法(FP法)的新近发展作了说明。
X射线荧光光谱仪器 数据处理系统 结构优化 元素分析
赵恩好
沈阳地质矿产研究所,辽宁沈阳 110032
国内会议
嘉峪关
中文
149-155
2011-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）