不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响

摘要：

　　本文介绍了LM837双极运算放大器在1.8Mev、1Mev，不同能量不同束流、相同能量不同束流的电子辐照下的辐射效应及常温退火特性。试验结果表明：1.8MeV电子能量辐照引起的LM837辐射损伤比1Mev明显；辐照过程中正偏条件下的偏置电流变化比零偏时微大；不同情况下辐照后的室温退火都表现出“后损伤”效应。本文对能量的不同、偏置的不同所导致的不同损伤机理进行了分析。

关键词： 运算放大器 辐射效应 电子能量 偏置条件

作者: 胡天乐 陆妩 席善斌 胥佳灵 吴雪 张乐情 卢健 于新

作者单位: 新疆大学 物理科学与技术学院,新疆 乌鲁木齐 830046 中国科学院新疆理化技术研究所,新疆 乌鲁木齐 830011 新疆大学 物理科学与技术学院,新疆 乌鲁木齐 830046 中国科学院新疆理化技术研究所,新疆 乌鲁木齐 830011 新疆电子信息材料与器件重点实验室,新疆乌鲁木齐 830011 中国科学院新疆理化技术研究所,新疆 乌鲁木齐 830011 新疆电子信息材料与器件重点实验室,新疆乌鲁木齐 830011

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 29-34

在线出版日期: 2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）