基于电学参数退化的微电子器件失效激活能评估新方法
从阿伦尼斯方程出发，本文对以电参数退化为基础的加速寿命试验中的失效激活能的评估提出了新方法。新方法在研究了失效激活能计算模型的推导过程基础上，提出了新的计算机程序算法以及通过函数拟合处理试验数据，显著提高了失效激活能的计算精度和稳定性。采用赋值法证明了新方法的计算误差仅为原方法误差10％。对DC/DC电源模块及肖特基二极管的试验数据处理，结果表明：采用新方法得到的肖特基二极管的失效激活能与统计数据吻合较好，外推出的肖特基二极管的寿命接近现场数据的统计结果，DC/DC电源模块的外推寿命与生产商提供的寿命指标吻合较好。验证了新方法的优越性。
微电子器件 失效激活能 计算方法 电学参数退化
郭敏 吕长志 齐浩淳 谢雪松 张小玲 孟先磊
北京工业大学电子信息与控制工程学院、北京市朝阳区平乐园100号
国内会议
苏州
中文
35-38
2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）