基于退化数据的寿命评估在元器件中的应用

摘要：

　　本文主要提出了基于加速性能退化的元器件贮存寿命预测流程，对元器件退化试验中表征参数的提取、轨迹模型的建立和加速退化试验数据处理方法进行了研究。应用加速退化试验数据的处理中应用伪寿命分布与加速退化模型拟合的方法，外推正常应力水平下元器件的贮存寿命。

关键词： 电子元器件 可靠性评估 加速退化试验 寿命预测 计算方法

作者: 李祥臣 易当祥 张国彬 赵韶平

作者单位: 第二炮兵装备研究院 北京市清河大楼子八

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 39-44

在线出版日期: 2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）