星载电子设备FPGA的抗单粒子翻转设计

摘要：

　　星载电子设备中广泛使用现场可编程门阵列(FPGA)，由于空间高能带电粒子的作用，FPGA器件易发生单粒子翻转等事件，导致程序错误运行或设备错误动作，对空间电子设备的正常工作带来巨大隐患。本文对FPGA在空间电子设备中的三模冗余等可靠性设计进行了小结。

关键词： 航天系统 电子设备 可编程器件 抗单粒子翻转 结构设计

作者: 曲利新

作者单位: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 吉林 长春 130033

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 48-50

在线出版日期: 2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）