运算放大器失效原因分析

摘要：

　　某单运算放大器在应用过程中发现输出电流过大、运放功能失效。本文对该运放进行失效分析，通过端口Ⅳ特性测试、开封内目检分析,并结合器件内部电路原理分析，确定了该运放功能失效的模式及原因。为减少及预防同类失效的再次发生提供了依据。结果表明，外来浪涌电压导致互补推挽输出级电路中，正电源方向输出管Q46的CB结和CE结表面击穿，使其过流保护管Q46-P产生过大电流烧毁，Al金属布线烧毁熔融、Al颗粒溅射，导致功能失效。

关键词： 运算放大器 失效机理 性能测试 电路设计

作者: 林晓玲 章晓文

作者单位: 电子元器件可靠性物理及应用技术重点实验室 工信部电子五所 广东 广州 510610 华南理工大学 电子与信息学院微电子研究所 广州 510640 电子元器件可靠性物理及应用技术重点实验室 工信部电子五所 广东 广州 510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 66-69

在线出版日期: 2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）