GaAs器件寿命试验结温测试方法研究

摘要：

　　GaAs器件寿命试验中，器件的性能参数退化与结温密切相关，本文对其如何确定结温问题进行展开，介绍了热阻的定义以及目前测试热阻常用的方法。针对GaAs器件的长期使用中出现的参数漂移、输出功率下降等问题，试验设计了4种相关的单机理评价结构，并使用电参数测试法确定出GaAs加速寿命试验中最合适的环境温度。

关键词： 半导体器件 寿命试验 性能参数 评价方法

作者: 洪潇 黄云 李沙金

作者单位: 工业和信息化部电子第五研究所 广州市天河区东莞庄路110号

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 99-102

在线出版日期: 2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）