铜合金中铜含量的X射线荧光光谱分析

摘要：

　　对采用X射线荧光光谱法测定铜合金中的铜含量进行了研究，以沈阳有色金属加工厂研制的By1995系列铜合金标准物质作为光谱标样，采用基本参数法校正基体效应，建立了X射线荧光光谱测定铜合金中铜元素的方法。本方法分析样品的结果与化学法和原子吸收光谱法分析值相吻合，10次制样测量，RSD约0.12％。

关键词： 铜合金 含量测定 X射线荧光光谱法 基本参数法

作者: 刘海东 林颖 董一峰

作者单位: 中航工业沈阳飞机工业(集团)有限公司，辽宁 沈阳 110850

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011年航空试验测试技术学术交流会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 378-379,384

在线出版日期: 2011-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）