多层陶瓷电容器噪声检测技术研究
多层陶瓷电容器(MLCC)是电子信息产业的核心电子元器件之一。针对我国MLCC产量高、质量和可靠性相对较差的现状，本文根据MLCC漏电流噪声产生机制及其与材料缺陷的关系，提出一种灵敏噪声检测技术。利用在已有绝缘介质漏电流噪声测试的基础上改进出MLCC噪声测试体系，对不同容值和老化前后的MLCC进行了噪声测试，进而利用噪声测试分析软件提取出所需噪声参数，与电性能检测参量漏电流等进行对比，验证了噪声测试技术的准确性和灵敏性。
多层陶瓷电容器 噪声检测技术 绝缘介质 电性能
张晓芳 杜磊 陈文豪 吴小平
西安电子科技大学技术物理学院,陕西 710071
国内会议
合肥
中文
239-244
2011-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）