电子元器件检漏中值得注意的几个问题

摘要：

　　本文针对电子元器件检漏中值得注意的几个问题，提出了自己的看法。希望在以后的工作过程中减少错判、误判的可能。

关键词： 电子元器件 军用装备 氦质谱背压检漏 漏率计算公式

作者: 吴孝俭

作者单位: 国防科技工业无损检测鉴认委泄漏检测专业组 北京 京顺路7号 100028

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国真空学会质谱分析和检漏专委会第十六届年会暨中国计量测试学会真空计量专委会第十一届年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 6-10

在线出版日期: 2011-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）