基于LabVIEW晶体生长检测系统的圆弧拟合技术
在基于LabVIEW晶体生长检测系统中,基于最小二乘法曲线拟合原理和单晶硅生长特性,运用图形化编程语言时采集的单晶硅生长信息图进行图像处理,对部分”释热光环”进行圆弧拟合。由拟合出的圆进行晶体生长直径检测。实验表明,该设计能够很好地完成圆弧拟合,实现时单晶硅的生长直径检测,符合系统检测要求。
半导体材料 单晶硅片 制作工艺 圆弧拟合技术
白雨 程光伟
西安工业大学电子信息工程学院,陕西西安 710032
国内会议
西安
中文
91-93
2011-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)