对电快速瞬变脉冲群测试可重复性的分析

摘要：

　　在对EFT(电快速瞬变脉冲群)概念进行介绍的基础上，针对同样型号芯片在多次测试中的测试结果不一致问题，采用德国朗格公司的EFT测试设备进行实验。实验结果表明：EFT信号的随机时间注入性对EFT测试并无太大影响，而个体芯片间的差异对同型号不同芯片的EFT抗扰能力有一定影响。

关键词： 芯片测试 电快速瞬变脉冲群 可重复性 抗扰性能

作者: 柴竹青 胡振兴 高攸纲

作者单位: 北京邮电人学电子工程学院，北京 100876

会议类型: 国内会议

会议名称: 第21届全国电磁兼容学术会议

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 210-212,216

在线出版日期: 2011-04-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）