领先的RFIC低成本测试方案

摘要：

　　主流RFIC的高频率，高带宽，多射频端口的特点对现在的RF ATE系统构成了不小的挑战，以模块化架构为基础的RF ATE架构凭借丰富的射频端口资源、高效的并行测试构架、人性化的操作界面，以及先进的测试板为复杂RFIC提供了低成本测试解决方案。

关键词： 无线通信 集成电路 系统架构 测试方法

作者: 孙亚春

作者单位: 深圳集成电路设计产业化基地管理中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届北京科技交流学术月节能与低功耗集成电路技术国际研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 41-46

在线出版日期: 2010-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）