ATE的技术演进规律及多点测试的成本分析

摘要：

　　经由专用发展而成通用的ATE的新趋势之一是并行测试。并行系统的设计原理揭示自阿姆达尔定律。依据ITRS-2009对比2005年的ATE基础数据，计算分析了多点ATE测试的成本优势。

关键词： 半导体自动测试机 阿姆达尔定律 结构设计 计算分析

作者: 李文石 刘晶

作者单位: 苏州大学电子信息学院 微电子学系

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届北京科技交流学术月节能与低功耗集成电路技术国际研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 84-92

在线出版日期: 2010-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）