一种高压瓷瓶泄漏电流带电测量方法

摘要：

　　染污等因素会造成高压瓷瓶的绝缘性能下降，当到达一定程度时高压瓷瓶可能会发生闪络事故，泄漏电流是表征瓷瓶绝缘能力的重要参数，泄漏电流大小的测量对高压瓷瓶缺陷的早期诊断至关重要，本文提出一种较为简单的高压瓷瓶泄漏电流带电测量方法，通过此方法可以了解高压瓷瓶的运行状况。

关键词： 高压瓷瓶 绝缘结构 染污闪络 漏电测量

作者: 刘志学 单鸿旭

作者单位: 苏州供电公司，江苏 苏州 215000

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010年江苏省电机工程学会高电压技术学术年会

会议地点: 江苏南通

会议语种:中文

页码: 152-154

在线出版日期: 2010-12-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）