RF领域的SOI器件及低噪声放大器电路研究
从两种不同结构形式的部分耗尽器件性能研究入手,以0.6umnmos为基础,设计并研制了在芯片内部具有高Q值的平面电感的SOI低噪声放大器电路。电路在1.5V电压下,中心频率1.5GHz时峰值增益为24dB,浮体SOI器件结构的LNA电路比体接触结构的LNA电路有更高的增益和较低的噪声。
RF 芯片 浮体 放大器
海潮和 靳伟
中国科学院微电子中心 香港科技大学
国内会议
海口
中文
150~153
2000-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)