二维气相色谱法快速分析高纯锗烷中杂质
采用二维气相色谱技术与脉冲氦离子化检测器相结合,测定高纯锗烷中杂质,并探讨了不同阀事件时间程序对分析结果的影响。该方法实现了通过一次进样完成锗烷中微量氢、氧(氩)、氮、一氧化碳、二氧化碳和甲烷杂质分析,结果表明该方法的重复性和准确性好。
气相色谱 锗烷 切割反吹 脉冲氦离子化检测器
林宇巍 陈熔 陈华 应松
国家化学工业气体产品质量监督检验中心,福建 福州 杨桥中路 杨南街 83号 350025
国内会议
福州
中文
146-150
2011-11-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)