基于闭环跟踪法的正余弦编码器细分技术

摘要：

　　位置传感器精度直接影响到伺服系统的控制性能，正余弦编码器细分技术是目前获取高分辨率位置检测精度的主要手段。针对常规细分算法计算时间长的缺点，本文研究了正余弦编码器解码的实现方法和闭环跟踪细分算法,给出细分算法实现框图和设计参数，缩短了计算时间，大大提高了测速范围和细分精度。最后在ARM 处理器上实现该算法，采样计算频率达500kHz，各个性能满足伺服位置传感器的性能要求，具有很具有极高的使用价值。

关键词： 正余弦编码器 闭环跟踪法 控制性能 伺服系统

作者: 吴立 罗欣 沈安文 覃海涛

作者单位: 华中科技大学，武汉，430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 中南六省(区)自动化学会第29届学术年会

会议地点: 南宁

会议语种:中文

页码: 1-5

在线出版日期: 2011-10-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）