会议专题

科学级相机Alta U9000 噪声的测试与分析

  CCD在成像过程中不可避免的引入一定的噪声。这些噪声将对以图像检测为基础的CCD各种工程应用带来误差。本文分析了各种CCD噪声的来源及其数学性质,并对科学级CCD Alta U9000的各种噪声进行了量化分析,给出了暗电流噪声、成像电路噪声及随机噪声的变化规律。对不同积分时间的图像进行了噪声抑制实验。实验证明,根据对U9000 CCD噪声的预先测试数据,其噪声中的暗电流噪声、成像电路噪声等系统噪声可以得到很大的抑制,而随机噪声无法抑制。

数字测图 CCD成像 数据处理 噪声抑制

原玉磊 蒋理兴 刘灵杰

信息工程大学测绘学院 郑州 450052

国内会议

2011大地测量学术年会暨第六届全国大地测量研究生学术论坛

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2011-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)