ESDQL:一种评估小时延缺陷覆盖率的度量标准
随着工艺的不断发展，越来越多的因素会在电路中引入小时延缺陷，因此检测小时延缺陷变的非常必要。本文首先回顾已有的几个评估小时延缺陷覆盖情况的度量标准并分析它们的优缺点。这些度量标准由于没有排除已经被测到的大时延缺陷的干扰而不能准确反映测试集对于小时延缺陷的覆盖情况。进而提出了一种用来准确评估小时延缺陷覆盖率的新的度量标准：扩展统计时延质量等级（Extended Statistical Delay Quality Level，ESDQL）。实验结果表明ESDQL在评估测试集的时延测试质量以及对测试向量自动生成 （Automatic Test Pattern Generation, ATPG）的指导方面都优于已有的度量标准。
集成电路 小时延缺陷 跳变故障 电路测试
朱雪峰 李华伟 李晓维
中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,北京 100190 中国科学院研究生院,北京 100039 中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,北京 100190
国内会议
北京
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2011-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）