一种面向差错容忍应用的数字系统故障关键性评估方法
随着集成电路工艺尺寸的进一步缩小,制造出可靠或功能完全正确的数字电路越来越困难,设计成本越来越高,系统可扩展性也面临着挑战。同时,多媒体和通信领域的应用以及一些新型应用本身可以容忍部分差错,这使得差错容忍的计算成为一种新的计算模式。不同于缺陷容忍和故障容忍,差错容忍依据应用特性放松了对电路输出的正确性要求。<br> 本文从差错容忍的角度提出了一种跨层次故障关键性评估方法。以一款H.264/AVC视频解码器为例,评估发现不同的功能模块内的故障由于其产生的差错对应用的影响程度不同而具有不同的重要程度,同一个模块内的故障也具有不同的重要程度。故障关键性的评估能够指导测试以提高成品率,并减少可靠性设计所需的成本。
集成电路 差错容忍 电路测试 故障评估
方运潭 李华伟 李晓维
中国科学院计算机系统结构重点实验室,北京 100190 中国科学院计算技术研究所,北京 100190 中国科学院研究生院,北京 100049 中国科学院计算机系统结构重点实验室,北京 100190 中国科学院计算技术研究所,北京 100190
国内会议
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1-9
2011-07-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)