基于多路复用的老化预测电路设计研究
随着超大规模集成电路的飞速发展，集成电路的工艺尺寸不断减小，从而使晶体管更容易老化。本文介绍了一种预测老化电路，检测电路中的PMOS管在不工作的情况下关闭，降低了PMOS管的老化速度；主要研究将检测电路应用到多路复用中，通过共用部分检测电路节省面积开销；由实验得出一个检测电路所能够连接的最大路径数目，并通过计算得出， 与非多路复用的检测电路相比，多路复用的检测电路在面积开销方面要小很多，从而大大地节省了芯片的功耗与生产的成本。
集成电路 电路设计 多路复用 老化预测
刘彦斌 秦晨飞 梁华国 黄正峰 史冬霞
合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥 230009
国内会议
北京
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2011-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）