基于功能等价类的FPGA细粒度可靠性设计方法研究

摘要：

　　随着FPGA集成电路制造技术的不断进步，晶体管特征尺寸已经进入到纳米级别，可靠性逐渐成为制约FPGA应用 的瓶颈。由于SRAM型FPGA包含大量存储单元，芯片受软错误的影响尤为严重。已有的针对FPGA软错误的可靠性设计方法 不同程度地存在面积开销大，计算复杂度高，需要芯片特定物理结构支持等缺点。<br>　　本文提出一种基于功能等价类的FPGA细粒度可靠性设计方法，将含有空余项的查找表替换为具有等价功能但逻辑屏蔽效应更强的查找表，从而提高电路的可靠性。实验结果表明，该方法能够降低电路的软错误率达21％以上，同时几乎不会带来任何额外的性能和面积开销。

关键词： 集成电路 可编程器件 电路设计 可靠性评价

作者: 黄柯衡 胡瑜 李晓维 刘波 刘鸿瑾 华更新

作者单位: 中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,北京,100190 中国科学院研究生院,北京,100049 中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,北京,100190 北京控制工程研究所,北京,100190 空间智能控制技术国防科技重点实验室,北京,100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国容错计算学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 1-7

在线出版日期: 2011-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）