基于自反馈和LFSR的时序电路自测试研究
由被测电路自己施加测试向量(TVAC)的内建自测试技术把被测电路视为一种可利用的资源，但因为使用多路开关、计数器、译码器等测试结构，硬件开销较大。线性反馈移位寄存器(LFSR)作为伪随机测试生成器常用的硬件结构，具有结构简单、硬件开销小、易于控制和实现的优点。<br> 本文把时序电路测试结构中的部分触发器连接为一个LFSR，由电路自反馈对LFSR重播种，实现一种时序电路的自测试技术。针对ISCAS’89基准电路进行相关实验，结果表明 本方法能在达到相同故障覆盖率的情况下，有效减 少测试硬件开销。
集成电路 电路结构 线性反馈 自测试技术
郭苗苗 邝继顺
湖南大学 信息科学与工程学院,长沙 410082
国内会议
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2011-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）