一种基于Loopback结构的RF IC内建自测试方法

摘要：

　　本文针对系统芯片上RF电路测试接口不足以及测试时间过长等问题，提出了一种可编程CMOS衰减器，并将其应用在基于Loopback结构的内建自测试电路中。通过软件对可编程CMOS衰减器和包含Loopback 测试电路的RF系统进行仿真，分析这种方法的可行性。实验结果表明，基于Loopback结构的内建自测试（BIST）电路可以正确的测量出系统故障。这种BIST方法可以应用在生产测试中，减少测试时间降低测试成本。

关键词： 集成电路 电路结构 电路检验 内建自测试

作者: 崔伟 冯建华

作者单位: 北京大学微电子学系,北京 100871

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国容错计算学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 1-5

在线出版日期: 2011-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）