大规模集成电路征兆测试新方法
征兆测试（Syndrome Testing）是一种高效简洁的电路测试方法。本文基于将奇偶测试和征兆测试相结合的思想，提出一种适用于大规模集成电路的新测试方法----组合征兆测试法。本方法的特点在于提高测试效率的同时也提高了征兆测试的可测性，使得原来不能使用征兆测试的电路也可以进行征兆测试。利用这种技术，测试者可以通过穷举输入组合，使用奇偶测试和征兆测试相结合的思想，即一种称为组合征兆测试的新方法来解决对大规模集成电路故障测试的难题。本方法的主要思想是首先通过被测电路的奇偶性来判断该电路的征兆测试法的可测性，对征兆测试法不可测的电路，引入高阶征兆测试的思想，使其成为高阶征兆测试法可测电路。因此，提高电路征兆可测性和故障覆盖率。通过对部分基准电路和常用电路的测试实验来验证了本文提出的新方法的实用性和有效性。
集成电路 电路检验 征兆测试 穷举组合
顾苏赟 徐拾义
上海大学 计算机工程与科学学院,上海,200072
国内会议
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1-10
2011-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）