混合信号SoC 联合测试方案的设计
混合信号SoC模拟核的测试是SoC测试的难点之一，常用片上DAC、ADC配合模拟核进行测试。本文对于片上DAC、模拟核、ADC同时待测的情况，基于模拟核的振荡测试、ADC柱状图测试和DAC 脉宽测试等方法，提出联合测试方案。将重构模拟核产生的三角波振荡信号，分别作为ADC柱状图测试和DAC脉宽测试的激励，并引入ADC和DAC的直连测试作为补充，构建三者两两之间的联合测试。该方案对电路进行少量重构的条件下，自生成并复用测试激励，可实现对单故障的定位并解决双故障掩盖问题。
集成电路 片上系统 电路测试 故障定位
杨舟 王红 杨士元
清华大学 自动化系,北京 100084
国内会议
北京
中文
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2011-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）