自保持接口在模拟芯核虚数字化测试中的优化研究

摘要：

　　数模混合SoC正逐步成为SoC的主导，而其中模拟芯核的测试问题是研究的难点之一。利用自保持模拟测试接口（SHATI）可以实现模拟芯核对外接口虚数字化，对其进行并行测试。本文针对自保持模拟测试接口进行了面积优化，并考虑在施加测试激励的因素下，给出了测试时序设计的优化算法，最后通过仿真实验验证结果。

关键词： 集成电路 片上系统 数模混合 电路测试

作者: 李积惠 王红 杨士元

作者单位: 清华大学 自动化系,北京 100084

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国容错计算学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 1-5

在线出版日期: 2011-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）