斜四边形GaN基LED器件光提取效率分析
在研究GaN基LED芯片外形结构对光提取效率影响机理的基础上,提出了一种新的斜四边形衬底外形结构,在理论研究了该结构中侧面倾斜角度对光子提取效率的影响后,通过正反面划片工艺实现样品的制作,结果表明斜面倾斜角度为60°时,轴向光强提高了31.99%。同时本文进一步分析和验证了LED芯片外形结构对封装后LED器件出光效率的影响。
斜四边形GaN基 LED芯片 光提取效率 外形结构
张威 罗红波 张建宝 王江波
华灿光电股份有限公司,武汉东湖开发区滨湖路8号,430223
国内会议
广州
中文
225-228
2011-11-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)