相关衰落信道上LDPC码的性能分析

摘要：

　　该文使用高斯近似算法，推导相关Nakagami—m衰落信道上采用最大比合并分集接收的低密度奇偶校验码的误比特率闭合表达式。基于离散密度进化算法，计算低密度奇偶校验码无误译码时的信噪比门限值。仿真结果表明高斯近似能够较好的估计相关Nakagami—m衰落信道上低密度奇偶校验码的性能。

关键词： 衰落信道 LDPC码 最大比合并 高斯近似 低密度奇偶校验码 性能分析

作者: 方锋华 李光球

作者单位: 杭州电子科技大学通信工程学院,浙江 杭州 310018

会议类型: 国内会议

会议名称: 浙江省电子学会2011学术年会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 37-40

在线出版日期: 2011-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）