数字化射线检测图像的缺陷评级方法
本文提出了一种对CMOS射线阵列扫描探测器获取的数字化射线检测图像中的缺陷进行等级评定的方法，包括使用缺陷对比评级标准试片和计算机辅助评定技术。设计了缺陷对比评级标准试片，用于测量图像的变形情况及其放大率，并采用试片上的标准尺寸与图像中的缺陷进行对比评定。另外，通过自行开发的缺陷评级软件对缺陷进行分割、标号，并根据计算的特征参数进行分类，从而建立了缺陷的计算机辅助评定方法。借助上述两种缺陷评级工具，可轻松有效的实现图像中缺陷的总体级别评定及主要缺陷的定位。
数字化射线检测 缺陷评级软件 铜试片 变形情况
孙朝明 汤光平 李强 王增勇
中国工程物理研究院机械制造工艺研究所,绵阳 621900
国内会议
宁波
中文
75-81
2011-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）