Compton背散射探测系统的蒙特卡洛模拟

摘要：

　　Compton背散射成像技术由于其独特的优势广泛应用于无损检测领域。本文利用蒙特卡洛模拟软件包Geant4和基于Geant4的应用程序Gate模拟320kVp背散射探测系统的性能，如准直器的参数、探测器采集角度对系统信号的影响、以及系统的探测深度等。此外，我们模拟了光谱的衰减特性并与实验结果相比较，证明了蒙特卡洛模拟方法是有效的，该方法可用于背散射探测系统设计及优化。

关键词： Compton背散射成像技术 蒙特卡洛模拟 系统设计 无损检测

作者: 赵维 魏存峰 唐晓 孙翠丽 曹学香 舒航 史戎坚 魏龙

作者单位: 中国科学院高能物理研究所核分析技术重点实验室,北京,100049 北京市射线成像技术与装备工程技术研究中心,北京,100049

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011年全国射线检测技术年会

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 104-111

在线出版日期: 2011-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）