X射线图像中缺陷特征的分类

摘要：

　　X射线可以展示物体内部结构和缺陷分布，因此广泛用于工业和医学的无损检测领域。利用计算机提取X射线图像中的有力的缺陷特征，可以实现缺陷的自动识别，避免在批量和实时无损检测时由疲劳程度和工作经验等主观因素引起误判和漏判。本文从特征的提取域角度出发，综述了X射线图像缺陷识别中常用的缺陷特征，并简单介绍了特征的筛选方法，为在不同用途要求下选取有效的缺陷特征提供参考。

关键词： X射线图像 缺陷特征 自动识别 无损检测

作者: 毕碧 曾理

作者单位: 重庆大学 光电技术及系统教育部重点实验室ICT研究中心,重庆 400044 重庆大学光电工程学院 重庆 400044 重庆大学 光电技术及系统教育部重点实验室ICT研究中心,重庆 400044 重庆大学 数学与统计学院 重庆 401331

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011年全国射线检测技术年会

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 134-138

在线出版日期: 2011-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）