结合C-V模型与多项式拟合的CT图像体积测量算法

摘要：

　　针对工业CT图像体积测量精度不足的问题，提出一种高精度的用于体积测量的结合C-V模型与最小二乘多项式拟合的算法。首先对通过C-V模型提取出切片亚像素级轮廓，并使用最小二乘拟合消除轮廓的锯齿现象；然后对各层切片上等相角的拟合轮廓点建立匹配，采用最小二乘拟合得到工件三维轮廓；最后采用圆台法计算工件体积。结果表明，所用方法对仿真模型体积测量误著优于0.197％。

关键词： 工业CT图像 体积测量算法 C-V模型 多项式拟合

作者: 伍立芬 王珏 邹永宁

作者单位: 重庆大学光电技术与系统教育部重点实验室ICT研究中心,重庆 400030

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011年全国射线检测技术年会

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 143-151

在线出版日期: 2011-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）