工业CT图像亚像素边缘检测方法对比研究

摘要：

　　概述了常用的工业CT图像边缘检测方法，阐述了Zernike矩边缘检测法、sigmoid拟合法、C-V模型三种亚像素边缘检测方法原理，并重点分析比较了三种方法的定位精度、检测速度、抗噪能力和弱边缘检测能力。理论分析与实验结果表明：C-V模型边缘定位精度最高，抗噪能力最强：Sigmoid拟合法拟合弱边缘最有效；Zernike矩法边缘定位速度最快、细节检测能力强。

关键词： 工业CT图像 亚像素边缘检测 Zernike矩法 Sigmoid拟合法 方法对比

作者: 刘明进 王珏 蔡玉芳 王慧倩

作者单位: 重庆大学自动化学院,重庆 400030 重庆大学自动化学院,重庆 400030 重庆大学 光电技术及系统教育部重点实验室ICT研究中心,重庆 400030 重庆大学 光电技术及系统教育部重点实验室ICT研究中心,重庆 400030

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011年全国射线检测技术年会

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 152-160

在线出版日期: 2011-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）