局部“自修复”电子系统的构建及其可靠性分析

摘要：

　　利用FPGA较强的抗ESD损毁效应及其可重配置特性，引入胚胎电子思想，构建了局部“自修复”电子系统模型，通过信道冗余和胚胎阵列的重构机制实现了电子系统的局部“自修复”功能。对构建的模型进行可靠性分析，发现冗余信道数量和单个信道的可靠性是影响系统可靠性的两个主要因素。

关键词： 现场可编程门阵列 胚胎电子 自修复 可靠性模型 电子系统

作者: 巨政权 张海川 解双建

作者单位: 军械工程学院静电与电磁防护研究所，河北石家庄 050003 解放军63961部队，北京 100012 军械工程学院计算机工程系，河北石家庄 050003

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届电磁环境效应与防护技术学术研讨会

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 113-115

在线出版日期: 2011-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）