集成电路方波注入损伤效应试验研究

摘要：

　　为了准确测试方波脉冲注入对集成电路的影响，本文对GJB538—88中的方波注入法进行了改进，通过设计专用测试夹具，解决了方波产生的辐射场及其高频反射对测试结果的影响，建立了由高频脉冲模拟器、专用测试夹具和示波器等组成的测试系统。利用该系统测试了74LS08的性能参数。

关键词： 方波注入 集成电路 损伤效应

作者: 曹艳宾 武占成 孙永卫 高永生 李鹏举

作者单位: 军械工程学院静电与电磁防护研究所，河北石家庄 050003

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届电磁环境效应与防护技术学术研讨会

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 129-132

在线出版日期: 2011-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）