计算机X射线检测技术(CR)空间分辨力的测定

摘要：

　　计算机X线成像(CR)是一种先进的成像技术，它采用可重复使用的储存磷光成像板代替胶片完成照相，可获得数字化图像。采用双丝像质计对影响CR成像质量因素之一的空间分辨力进行测定，井对曝光剂量、管电压对CR空间分辨力的影响进行了对比试验。

关键词： 计算机X射线检测技术 空间分辨力 曝光剂量 管电压

作者: 金信鸿 吴伟 邬冠华

作者单位: 南昌航空大学 无损检测技术教育部重点实验室，南昌 330063

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届无损检测高等教育发展论坛暨电磁超声无损检测技术交流会

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 186-188

在线出版日期: 2011-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）