α-Ti晶粒尺寸的EBSD技术测定方法及分析

摘要：

　　用EBsD技术中的自动晶粒尺寸计算方法测定了六方结构α-Ti的晶粒尺寸。结果表明。对EBsD技术获取的数据，用面积法测量时能准确测出晶粒的平均尺寸。但EBSD方法测量晶粒尺寸时会受到标定率及误标的明显影响。影响最大的是伪对称性。即当固大量误标遣咸小“晶粒”出现时，平均晶粒尺寸明显降低。通过调整测试参数和后续处理可以去除该影响。比较不同级别降噪后的数据可知，标定率越高，降噪前后结果越接近；标定率越低，降噪前后差别越大。

关键词： 背散射电子衍射 晶粒尺寸测定 工业纯钛退火样品 伪对称性

作者: 鲁法云 杨乎 李萧 孟利

作者单位: 北京科技大学 材料科学与工程学院 冶金工程研究院，北京,00083

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 388-393

在线出版日期: 2011-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）