X-射线荧光光谱法测定铝及铝合金中8种微量元素的含量

摘要：

采用X 射线荧光光谱仪，以国家固体标准物质建立工作曲线，测定铝及铝合金中微量Fe、Si、Cu、Mn、Mg、Zn、 Ti、Cr 的含量。对激发电压、电流、扫描角度等影响因素进行实验研究，同时对谱线干扰、基体效应等进行校正，得到适宜的 测定条件。用该方法分析实际样品，结果显示方法准确、快速，相对标准偏差（RSD n=6）优于0.63％，与标准值相比，绝对 偏差优于0.024％，某些元素基本没有偏差。

关键词： XRF 分析法 铝及铝合金 谱线干扰校正 背景校正

作者: 安身平 廖志海

作者单位: 中国核动力研究设计院四所

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011川渝蓉粉末冶金学术交流会暨重庆市粉末冶金年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 84-91

在线出版日期: 2011-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）