基于无线通信的灯具寿命测试仪器研究

摘要：

利用半导体芯片作为发光材料的照明技术具有光电转换效率较高、节能、环保、寿命长等优点。然而，LED(Light Emitting Diode，发光二极管)的工作温度受LED晶粒本身的热阻、银胶和基板散热的影响较大。当工作温度上升时，LED的发光效率就会急剧下降。更为严重的是，由于散热不良导致的热击穿，激励过大导致的静电击穿等因素使LED灯具的寿命大大降低。因此，研究灯具寿命的测试方法和测试技术是极其有必要的。

关键词： 无线通信 灯具寿命 测试方法 测试仪器 LED灯具

作者: 潘登 张云翠 朴太明 高英明 邹念育 王智森

作者单位: 大连工业大学 集成测控技术研究所 大连工业大学 光子学研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011绿色照明与科学发展科技研讨会暨第四届中日韩照明大会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 193-198

在线出版日期: 2011-09-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）