会议专题

Bi2O3添加量对ZnO压敏陶瓷直流电场下电学稳定性的影响

针对不同Bi2O3添加量对ZnO压敏陶瓷直流电场下电学稳定性的影响进行了研究.结果表明单纯增加Bi2O3添加量将对ZnO压敏陶瓷电学性能产生负面影响.随着Bi2O3添加量增加,ZnO压敏陶瓷的压敏电压剧烈降低,同时在直流电场下的电学稳定性变差,即漏电流增加和非线性下降.但在850℃热处理后可明显提高氧化锌压敏陶瓷直流电场下电学稳定性.850℃热处理使晶界富铋相发生由βBi2O2到γ-Bi2O3的相变,有效抑制了晶界氧的解吸附,产生稳固的晶界势垒,提高了电学稳定性.

直流老化 热处理 压敏陶瓷 氧化锌 电学稳定性

孟磊 郑嘹赢 程丽红 李国荣

中国科学院上海硅酸盐研究所 上海 长宁区 200050

国内会议

第十三届全国电介质物理、材料与应用学术会议

成都

中文

166-169

2010-11-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)