直流盘型玻璃绝缘子离子迁移和热破坏试验研究分析

摘要：

文章阐述了直流盘型绝缘子离子迁移和破坏试验目的和原理以及试验方法。并根据多次试验和部分产品运行经验，从物理上进行了分析探讨并得出结论，认为离子迁移试验中温度选择偏上限进行试验，对产品要求严格，产品电性能和热稳定性好，预期使用寿命长。

关键词： 玻璃绝缘子 离子迁移 热破坏试验 温度选择

作者: 范建二 沈其荣 王道平

作者单位: 南京电气(集团)有限责任公司，南京 210038

会议类型: 国内会议

会议名称: 2011输变电年会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 290-292

在线出版日期: 2011-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）