红外焦平面阵列条纹非均匀性校正方法

摘要：

　　条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪声。本文提出了一种基于非均匀性分离的模型方法，能够在单帧内实现条纹非均匀性的校正。通过局部窗口遍历相邻列的误差函数，得到其非均匀性估计，并依据相邻两帧相关性的继承性，完成条纹非均匀性的校正。通过对模拟条纹非均匀性和实际图像的实验和理论分析，结果表明本文算法能够显著提高条纹非均匀性校正效果。

关键词： 红外探测 辐射成像 图像处理 条纹校正

作者: 任建乐 陈钱 钱惟贤

作者单位: 南京理工大学电光学院,江苏 南京 210094

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届红外成像系统仿真测试与评价技术研讨会

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 284-286

在线出版日期: 2011-09-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）