考虑多失效机理的电子产品寿命预测方法初探
以电子产品的常见失效机理和损伤理论为基础，综合考虑电子产品寿命期内承受的环境应力和工作应力，结合典型的失效物理模型和损伤模型，建立了以多机理独立与竞争为基本假设的电子产品寿命预测方法，给出了该方法的实施流程及实现过程。相对于传统的仅针对单一失效机理模型对电子产品进行单点故障寿命预测的方法，该方法考虑的因素更加全面，可以适用于板级以及更高层级的电子产品故障预计。
失效机理 寿命预测 电子产品 损伤模型
谷瀚天 付桂翠 邹航 万博
北京航空航天大学可靠性与系统工程学院 北京 100191
国内会议
北京
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218-222
2011-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）