利用同步辐射X射线小角度散射研究纳米电介质微结构
对纳米电介质微结构，特别是界面特征的表征，是深入研究纳米电介质的基础。本文给出了利用同步辐射X射线小角度散射研究纳米Al2O3颗粒/聚酰亚胺复合膜微结构的方法。通过对散射曲线的分析，确定了无机纳米颗粒与聚合物基体之间存在尺度为1纳米数量级的过渡界面。该方法还可以给出纳米颗粒的尺度及分布等定量信息，可以为纳米电介质的制备以及深入的理论研究，提供实验依据。
同步辐射 纳米电介质微结构 界面特征
王暄 刘晓旭 殷景华 赵洪 雷清泉
哈尔滨理工大学工程电介质及其应用教育部重点实验室,黑龙江省电介质工程重点实验室国家重点实验室培育基地,哈尔滨 150080
国内会议
西安
中文
32-35
2011-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）